Mit dem von Naumann entwickelten Gerät können einzelne, unverkapselte Solarzellen schnell ohne großen Arbeitsaufwand auf potenzial-induzierte Degradation getestet werden. Das Testverfahren liefert damit die Grundlage für eine erste standardisierte Testprozedur.Volker Naumann vom Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik (CSP) erhielt den DIN-Innovationspreis für die Entwicklung eines Prüfverfahrens zur Ermittlung eines Defekts in Silizium-Solarzellen. Der mit 3000 Euro dotierte Preis wurde dem Wissenschaftler für sein Prüfgerät "PIDcon" am Dienstag auf der Hannover Messe überreicht, wie das ...Den vollständigen Artikel lesen ...